Những người đi chụp X quang răng hàng năm có nguy cơ mắc u màng não cao gấp 3 lần so với những người không đi chụp X quang răng.
Kết quả một cuộc nghiên cứu của các nhà khoa học thuộc Trường đại học Yale, Mỹ vừa được công bố cho thấy, những người đi chụp X-quang răng thường xuyên có nguy cơ cao bị u màng não. Các nhà khoa học tin rằng, nghiên cứu này sẽ giúp chúng ta nâng cao cảnh giác về việc sử dụng tia X trong nha khoa.
Theo kết quả nghiên cứu, những người đi chụp X quang răng hàng năm hoặc thường xuyên có nguy cơ mắc u màng não cao gấp 3 lần so với những người không đi chụp X quang răng.
Giới khoa học cho biết mặc dù kết quả nghiên cứu trên cho thấy việc chụp X quang răng thường xuyên có nguy cơ cao gây u màng não, nhưng đó chỉ là một phát hiện có ý nghĩa về mặt thống kê. Vì thế, những người đã sử dụng phương pháp này không cần phải lo lắng về những rủi ro đối với sức khỏe. Tuy nhiên, họ cũng khuyến cáo việc chụp X quang răng chỉ nên được thực hiện khi thật cần thiết./.
Theo Vũ Anh Tuấn/VOV Online